平成28年6月8日, 6月 IMI Colloquiumを開催しました．

6月 IMI Colloquium
講演タイトル：Scanning non-linear optical probe microscopy utilizing tip-enhanced near field optics
講師：橋詰 富博 氏 (日立製作所研究開発グループ)
場所：九州大学 マス・フォア・インダストリ研究所 ウエスト1号館 4階
         ＩＭＩオーディトリアム(W1-D-413)(円形階段教室)

In this talk, the principle of scanning probe microscopy (SPM) was explained. In addition, the speaker presented applications of SPM in materials science and biotechnology.

参加者数：教員12名，院生18名

下に写真を掲載しました．